SIR (Surface Insulation Resistance) 通常用來作電路板的信賴性試驗，其方法為在智能機器人線路板上將成對的電極交錯連接成梳形電路，并印上錫膏，然后在一定高溫高濕的環(huán)境下持續(xù)地給予一定偏壓，經(jīng)過一定長時間的試驗(24H,48H,96H,168H) 觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。

  這個試驗也有助看出助焊劑或其他化學物品在智能機器人PCB板面上是否有殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì)。一般我們使用這個方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動態(tài)的離子遷移現(xiàn)象，另外，它也可以拿來做CAF(Conductive Anodic Filament，導電性細絲物，陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗。

  注：CAF主要在測試助焊劑對PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。

  表面絕緣電阻(SIR)被廣泛用來評估污染物對組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點除了可偵測局部的污染外，也可以測得離子及非離子污染物對智能機器人線路板可靠度的影響，其效果遠比其他方法(如清潔度試驗、鉻酸銀試驗... 等)來的有效及方便。

  由于現(xiàn)在的電路板布線越來越密，焊點與焊點也越來越近，所以這項實驗也可作為錫膏助焊劑的可用性評估參考。

  Comb Pattern,梳形電路是一種多指狀互相交錯的密集線路圖形，可用在板面清潔度、綠漆絕緣性等進行高電壓測試的一種特殊線路圖形。

  SIR 量測標準：IPC-TM-650

  ▼SIR實驗用的測試板，一片板子有四組成對的電極交錯連接成梳形圖案

  ▼單獨把一組SIR實驗用成對的電極交錯連接成梳形圖案放大圖

  量測SIR時要在梳形圖案上印上錫膏，然后垂直放入已印有錫膏的SIR測試板并置于環(huán)境試驗機中，還要在其正負極加上45~50VDC的偏壓，環(huán)境實驗的條件如下：

  85+/-2℃+20%RH 3小時

  至少15分鐘

  85+/-2℃+85%RH至少1小時后開始加50VDC偏壓

  24小時后用100VDC量測SIR值

  再24小時后用100VDC再量測SIR值(共48小時)

  再48小時后用100VDC再量測SIR值(共96小時)

  再96小時后用100VDC再量測SIR值(共168小時)